晶圓顆粒缺陷檢查燈 高照度晶圓LED檢查燈 晶圓顆粒缺陷檢查燈 Wafer表面檢查燈光源 白光晶圓檢查燈 黃綠光晶圓檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學(xué)鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統(tǒng)的照明設(shè)備和光學(xué)系統(tǒng)機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購成本。晶圓顆粒缺陷檢查燈 采用人眼最敏感510-590NM之間波長光，來做最簡單與明確的判別，可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光，幾乎可檢測出所有塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達(dá)30萬LX，最小可以檢測1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的檢查燈
