泰立儀器專業(yè)代理美國GE工業(yè)無損檢測。
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縱波探頭能適用于檢測粗晶材料、原始的鑄造材料，奧氏體和奧氏體焊縫等。
對于普通探頭，由于粗晶粒結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測粗晶材料時要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結(jié)果，這主要取決于被檢測材料的聲學(xué)特性。我們一直致力于解決這個問題，我們選擇不同焦點的單晶探頭和TR探頭進行實驗，得到檢測粗晶材料的最佳探頭參數(shù)。
與此同時，我們得到了奧氏體材料制造商的大力支持。根據(jù)我們的經(jīng)驗和實驗，我們針對各種粗晶粒材料設(shè)計了相應(yīng)的探頭，這些探頭都取得了最佳的效果。此外，這些測試結(jié)果還獲得了最佳信噪比，并且所有的粗晶探頭都通過縱波探傷。 具有可更換保護膜的直探頭 頻率（MHZ） 接觸面（mm） 尺寸Φ(mm) 0.5 40 34 高阻尼 1 40 34 高靈敏度 1 33 28 非常好的信噪比 0.5 40 34 1 40 34 高阻尼，高信噪比 1 30 24 復(fù)合材料壓電晶片 2 30 24 最好的靈敏度和信噪比 縱波斜探頭—單晶系列，復(fù)合材料壓電晶片 頻率（MHZ） 接觸面（mm） 角度（ °） 深度范圍 要求的探頭線 WRY 60 WSY 45-2 WSY 60-2 WSY 45-4 WSY 70-4 2 2 2 2 2 2 4 4 4 48 x 25 48 x 25 48 x 25 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 45 60 70 45 60 70 45 60 70 5 - 100 5 - 80 5 - 55 6 - 25 4 - 20 3 - 15 3 - 30 3 - 20 2 - 15 } MPKL 2 } MPKL 2 } MPKL 2 雙晶系列縱波斜探頭—復(fù)合材料壓電晶片 頻率（MHZ） 接觸面（mm） 角度（ °） 1,8 1,8 1,8 4 44 53 x 29 53 x 29 53 x 29 30 x 15 30 x 15 30 x 15 45 60 70 45 60 70 15 - 70 10 - 60 5 - 45 2 - 30 1.5 - 20 1.5 - 20 } SEKL 2 } SEKN 2
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