泰立儀器專業(yè)代理美國GE工業(yè)無損檢測。
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美國GE粗晶探頭
縱波探頭能適用于檢測粗晶材料、原始的鑄造材料，奧氏體和奧氏體焊縫等。
對于普通探頭，由于粗晶粒結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測粗晶材料時要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結(jié)果，這主要取決于被檢測材料的聲學(xué)特性。我們一直致力于解決這個問題，我們選擇不同焦點的單晶探頭和TR探頭進行實驗，得到檢測粗晶材料的最佳探頭參數(shù)。
具有可更換保護膜的直探頭 |
頻率（MHZ） |
接觸面（mm） |
尺寸Φ(mm) |
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0.5 |
40 |
34 |
高阻尼 |
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1 |
40 |
34 |
高靈敏度 |
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1 |
33 |
28 |
非常好的信噪比 |
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0.5 |
40 |
34 |
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1 |
40 |
34 |
高阻尼，高信噪比 |
|||
1 |
30 |
24 |
復(fù)合材料壓電晶片 |
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2 |
30 |
24 |
最好的靈敏度和信噪比 |
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縱波斜探頭—單晶系列，復(fù)合材料壓電晶片 |
頻率（MHZ） |
接觸面（mm） |
角度（ °） |
深度范圍 |
要求的探頭線 |
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WRY 60 WSY 45-2 WSY 60-2 WSY 45-4 WSY 70-4 |
2 2 2 2 2 2 4 4 4 |
48 x 25 48 x 25 48 x 25 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 |
45 60 70 45 60 70 45 60 70 |
5 - 100 5 - 80 5 - 55 6 - 25 4 - 20 3 - 15 3 - 30 3 - 20 2 - 15 |
} MPKL 2 } MPKL 2 } MPKL 2 |
|
雙晶系列縱波斜探頭—復(fù)合材料壓電晶片 |
頻率（MHZ） |
接觸面（mm） |
角度（ °） |
|||
1,8 1,8 1,8 4 44 |
53 x 29 53 x 29 53 x 29 30 x 15 30 x 15 30 x 15 |
45 60 70 45 60 70 |
15 - 70 10 - 60 5 - 45 2 - 30 1.5 - 20 1.5 - 20 |
} SEKL 2 } SEKN 2 |
||
