這是特殊的成分分析,由一些具備較高成分分析技術(shù)實(shí)力第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)推出,用于分析被測(cè)物中出現(xiàn)的瑕疵或影響功能的特殊因素(例如透明屏幕的污點(diǎn)等)。
濕法分析直讀光譜(OES)
電感耦合等離子體放射光譜(ICP-AES)
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)
原子吸收光譜(AAS)
XRF
伊先生:13684912512, (華瑞測(cè)試金屬成分分析測(cè)試化驗(yàn)中心)
總機(jī)1:0755- 23093158;轉(zhuǎn)分機(jī)658;
直線2:0755-29362759;轉(zhuǎn)分機(jī)658;
直線3:0755-33561046;轉(zhuǎn)分機(jī)658;