GE/KK帶可更換保護膜的接觸法探頭K0.5S探傷儀探頭
探傷儀 探頭分為兩種類型可供測試選用：
1、單探頭和TR探頭。這兩種探頭都是在垂直于被測物體表面的方向上發(fā)射和接收脈沖（直探頭）。
2、或者是在與被測物體表面成一事實上的角度的方向上發(fā)射和接收脈沖（斜探頭）
K0.5S探傷儀探頭-主要特性：
- 單晶探頭進行聲波脈沖的發(fā)射和接收
- 縱波的垂直傳輸
- 由于柔性的抗磨損保護膜而具有穩(wěn)定的耦合特性，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上
- 如果及時地更換保護膜，則探頭的磨損可以達到最小
- 特殊的粗晶探頭，在測試高的聲波衰減材料時，利用短的聲波脈沖可以達到高信噪比
- 由于采用印模壓鑄成型，因此實際開關具有很高的穩(wěn)定性
K0.5S探傷儀探頭-主要應用領域
通常：用于容積形或者平等于表面的缺陷的探測和評估?？苫Q的抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或者彎曲的表面也達到盡可能好的耦合，并防止探頭受損。
美國GE、德國KK公司 單晶直探頭型號如下：
B0.5SL、B1SL、 B2SL
B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S
探頭詳細信息請致電：0755-22325800,22325920咨詢了解！
B..SL：
探頭型號有：B0.5SL B1SL B2SL
用于測試這樣一類中等尺寸和大尺寸物體，它們由于具有長的聲程（例如大的鍛件或球墨鑄鐵）而會導致大的聲波衰減。它們也適合用于測試具有強的聲波吸收特性的塑料（例如尼龍、特氟龍、聚丙烯），為增加靈敏度和分辨率，可以將保護膜去掉。
K..S，K..SM，K..SC和MK..S(粗晶探頭)：
探頭型號有：K0.5S、K1S、K0.5SM、K1SM、K1SC、K2SC、MK1S、MK2S、MK4S
用于測試這樣一類的中等尺寸和大尺寸物體，它們的材料會通過聲波的散射作用（例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合成材料等制成的物體）而導致高的聲波衰減。
它們也可以用于測試材料的物理特性（例如建筑材料、巖芯和半導體材料的特性）。
B..S和MB..S：
探頭型號有：B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S
這類探頭的公差分布范圍窄，對目前大多數(shù)的測試任務來說（例如平板物、條狀物和方形輪廓物體的測試，以及窗口和螺釘、螺孔和外殼等的測試），可以達到最高的精度要求。對于由多種材料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構(gòu)成的開關簡單的部件的測試也可以達到高精度要求。
